
En partenariat avec la société POLYTEC-PI, nous organisons une « journée technique microstructures» qui aura lieu le jeudi 20 novembre 2008 dans les locaux de TEMIS INNOVATION – Maison des Microtechniques à Besançon.
Cette journée sera l’occasion de participer aux échanges d’informations concernant les microstructures que tiendront des utilisateurs industriels et scientifiques. Plusieurs participants y présenteront également leurs applications techniques.
Par ailleurs, vous pourrez assister à des mesures réelles notamment avec le MSA-500 permettant la caractérisation statique et dynamique des MEMS.
Inscription dès à présent et avant le 7 novembre prochain sur le site internet à l’adresse suivante : http://www.polytec.fr/form_mems.html.
9:30 am to 17:30 pm
FEMTO-ST overview and microstructures & metrology applications
(FEMTO-ST, Christophe GORECKI)
Dynamic Parameters identification of Pressure Sensors & Beam structures
(IMMS, Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik- Systeme GmbH, Steffen MICHAEL)
Out of plane characterization of MEMS with a Twyman Green interferometer
(FEMTO-ST, Christophe GORECKI)
Laser doppler vibrometry for evaluating the piezoelectric coefficient d33 on thin film
(IEMN, Elhadj DOGHECHE)
MEMS Applications with the MSA-500 systems
(POLYTEC GMBH, Wilfried BAUER)
MEMS Characterization at Wafer-Level
(SUSS MICROTEC, Franck M. WERNER)
Micro-assembly as a new concept for MEMS fabrication
Robotic microhandling for hybrid and 3D MEMS assembly - Visit at the ENSMM for those interest
(FEMTO-ST, David HERIBAN)
MEMS : technologies & market applications overview
(YOLE, Mr HAMZA, Mr POTIN)
TESTS: MEMS CHARACTERIZATIONS
MSA - 500 Micro system analyzer
OFV - 534 Compact sensor Head
Probe stations